应变片温度误差的两个主要来源是什么?
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也称:电阻应变片温度误差
应变片温度误差是环境温度变化引起的附加电阻变化,由敏感栅电阻温度系数项和敏感栅与试件热膨胀失配项合成,再除以灵敏系数折算为等效虚假应变。
电阻应变片工作时,其电阻值不仅随被测试件的应变而变化,也随环境温度而变化。环境温度改变给测量带来的附加误差称为电阻应变片的温度误差。这种由温度引起的电阻变化,其量级与试件应变造成的电阻变化几乎相同,若不补偿或消除,将直接叠加在被测量输出上,造成测量误差。
温度误差主要由以下两部分因素构成。
式中 、 分别为温度 和 时的电阻值, 为敏感栅材料的电阻温度系数, 为温度变化量。由此产生的电阻变化为
应变片粘贴在试件上,当温度变化 时,试件材料和敏感栅材料因线膨胀系数不同而产生附加拉伸或压缩。设试件材料线膨胀系数为 ,敏感栅材料线膨胀系数为 ,则由此引起的附加应变为 ,对应的电阻变化为
式中 为应变片灵敏系数。
两项温度电阻变化合成,得到温度变化引起的总附加电阻变化
将总电阻相对变化除以灵敏系数 ,折算为等效的虚假应变输出
表示温度变化在测量结果中引入的等效虚假应变,其大小与温度变化量、敏感栅电阻温度系数、灵敏系数以及试件与敏感栅线膨胀系数之差有关。
扫描44页式3-15至22给Rt=R0(1+α0Δt),ΔRα=Rt−R0;未粘贴时Ls=L0(1+βsΔt)、Lg=L0(1+βgΔt),粘贴后相对自由敏感栅附加长度ΔL=(βg−βs)L0Δt,所以εβ=ΔL/L0并代入ΔRβ=KR0εβ。这里K、几何和温度系数均按局部线性模型;不把高阶项或全温域行为偷偷忽略后当精确式。
通电产生功耗,会使栅温度偏离环境。原书例题用初始I=.05A、P=.25W恒定估算10min温升15°C,同时在方法论框指出阻值改变会反馈影响电流与功耗,恒功率近似并非真实全过程。可缩短连续通电测量时间、控制激励、采取恒温/散热和合适温补,并在需要精度时评估反馈与实际热传递。本卡只说明这一影响和措施,不以该简化例题再出自热题。
基础测试统一使用选择题,先确认概念、定义和关键判断是否扎实。
应变片温度误差的两个主要来源是什么?
将温度引起的总电阻相对变化 ΔRt/R0 折算为等效虚假应变 εt 时,应除以什么?
当试件材料线膨胀系数 βg 大于敏感栅线膨胀系数 βs 时,温度升高引起的热膨胀失配项 (βg−βs)Δt 的符号和物理效果是?
暂无引用。