关于霍尔元件内阻随温度的变化,下列说法正确的是
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霍尔元件的内阻和霍尔输出电势都随温度变化,不同材料变化方向与幅度不同,HZ 型元件输出温度系数由正转负的转折点称为临界温度,实际工作温度应低于临界温度并留有余量。
霍尔元件的内阻分为两部分:控制电流两端的输入电阻和霍尔电势两端的输出电阻。由于材料不同,内阻随温度变化的特性存在差异。
用内阻相对变化率 (单位:%)描述温度影响,其中 为温度 时的内阻, 为参考温度下的内阻; 是归一化阻值比,其百分数基准为 100%,而相对变化量的基准为 0%。不同材料的内阻温度曲线走向不同:Si 随温度升高显著上升,InSb 显著下降,InAs 变化平缓,Ge 系材料(HZ-1、2、3 与 HZ-4)随温度升高而上升。
对 HZ 型元件,HZ-4(电阻率 )与 HZ-1、2、3(电阻率 )的内阻均随温度升高而上升,且 HZ-4 的上升幅度更大。内阻变化会改变控制电流与输出回路的工作状态,是温度误差的来源之一。
霍尔电势随温度变化,不同材料的温度系数不同:锑化铟(InSb)变化最显著,硅(Si)的温度系数最小,砷化铟(InAs)和锗(Ge)次之。
对 HZ 型元件,霍尔输出电势的温度系数会随温度改变符号:HZ-1、2、3 型在 50℃ 左右,HZ-4 型在 80℃ 左右,温度系数由正转负。温度系数符号发生改变的转折点温度称为元件的临界温度。
临界温度是霍尔输出温度系数由正转负的转折点。对教材所述 HZ 型元件的使用策略,由于元件工作时自身会温升,实际工作温度可适当低于其临界温度,以避免输出温度系数进入符号反转后的区域。临界温度只是该温度系数由正转负的曲线拐点,不构成一般器件安全工作温度的上限,也不保证拐点后误差必然更大;实际工作温度限值应按型号规定和具体误差模型确定。
教材中的片厚、建立时间、最高频率、0.5 T线性区及HZ系列温度曲线是材料或历史器件的示例;实际器件的带宽、线性区、偏置和工作温度应由型号与测试条件确定,不能将单个数值用于所有霍尔器件。
基础测试统一使用选择题,先确认概念、定义和关键判断是否扎实。
关于霍尔元件内阻随温度的变化,下列说法正确的是
HZ 型元件霍尔输出温度系数由正转负的转折点温度称为
按课件所示HZ元件在转折以下采用简单补偿的策略,工作温度应如何选择?
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