原穿透法中两个探头怎样分工?
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穿透法用工件相对两侧的发射与接收探头观察透射能量,适合某些自动薄板检测,但仅靠能量变化难以定位。
原图10-26中两个超声换能器在工件相对的两个表面,一个发射,一个接收。发射可为连续波或脉冲,不要求两探头都同时发射。
发射→工件声路→透射能量→接收指示。
在其他条件可比时,缺陷反射/吸收部分声能,穿过工件的接收能量较低;原例无缺陷时能量较大。实际下降也可能来自耦合、探头偏移或材料衰减变化,须先核声路和对准。
指示简单,便于自动化;对合适薄板可减轻脉冲回波中近表面盲区造成的限制。但它仍有自己的几何和灵敏度条件,不能称任何薄板与任意小缺陷都保证检出。
双探头相对位置要求高。只看穿透能量可判断异常,不能据此确定缺陷沿厚度的深度;小缺陷灵敏度较低,不把“未见明显下降”直接当无任何缺陷。
基础测试统一使用选择题,先确认概念、定义和关键判断是否扎实。
原穿透法中两个探头怎样分工?
仅有透射能量下降,能直接求缺陷深度吗?
暂无前置知识
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暂无引用。