理想平面镜重叠模型K=a²/(a+2ztanθ)²,a与θ保持不变,z增大时K如何变化?
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光纤反射位移检测利用发射光纤把光投射到反射面、接收光纤收集反射光,接收光强随探头到反射面的距离变化,从而由光强推知位移。
强度调制型光纤反射位移检测中,光纤只起传光作用,光强的调制发生在光纤外部,因此属于光强度外调制。探头通常由发射光纤和接收光纤组成:光源耦合进发射光纤,光从光纤端面出射后照射到反射目标;目标反射回来的部分光进入接收光纤,由光电探测器转换为电信号。反射面与探头端面之间的距离改变时,接收光纤收集到的光通量随之改变,因此测出接收光强即可得到物距变化,实现位移检测。
设发射光纤和接收光纤的端面近似在同一平面内,光纤芯径为 ,出射光束的半张角为 ,探头端面到平面反射镜的垂直距离为 。光从发射光纤端面出发,经反射面返回接收光纤端面,等效光程使光束在返回端面时扩展。对于平面镜反射,反射耦合到光纤的光能与光纤输出光能之比可写为
其中 为无量纲耦合比, 为光纤半径, 为探头到反射面的距离, 为出射光束半张角。该式表明:在发射光纤与接收光纤同轴、反射面为平面镜且返回光斑始终覆盖接收光纤端面的等效模型下, 增大时,分母增大, 减小,即接收光强随距离增大而下降。因此,仅在该等效模型及上述重叠条件成立时,接收光强与距离之间存在确定的单调关系,可用于测量距离或位移;对于发射光纤与接收光纤分开排列的实际探头,接收光强通常随距离先升后降,并非全域单调。
反射面的表面状态直接影响返回光强。对于平面镜面反射,反射光方向性较好,耦合效率较高;对于粗糙表面,反射光发生漫反射,部分光偏离接收光纤的接收角,使受光量下降。在光纤探头与反射面距离一定时,表面粗糙度 对受光量的影响还取决于反射角、接收方向、粗糙度尺度与波长:当粗糙散射使更多光偏离接收光纤接收角时,受光量随 增大而减小;但若镜面反射光未对准接收端,粗糙散射也可能使进入接收光纤的光量增加,故不能普遍认为受光量单调减小。因此,实际测量中反射面粗糙度、颜色和反射率都会影响灵敏度与标定关系;若被测表面状态变化,光强变化中会混入非位移因素。
实际光纤束探头中,发射光纤与接收光纤的排列方式会影响接收光强。常见排列包括轴对称排列、对半排列、无规排列、双光纤和单光纤等。此类传感器通常采用大数值孔径的粗光纤,以提高光强的耦合效率。排列方式和数值孔径决定了接收光纤能收集到的反射光比例,从而影响位移-光强曲线的形状和灵敏度。
该方法基于接收光强随距离变化的原理,适用于反射面状态相对稳定、可提供足够反射光的位移测量。由于接收光强同时受距离、表面粗糙度、反射率、光纤排列和光源功率波动等因素影响,实际使用中需要固定或补偿这些条件。强度曲线通常不是全域单调的:在很近和较远距离处接收光强都可能较弱,中间存在一个较有利的测量区间。
基础测试统一使用选择题,先确认概念、定义和关键判断是否扎实。
理想平面镜重叠模型K=a²/(a+2ztanθ)²,a与θ保持不变,z增大时K如何变化?
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