Ra与Ri并联时,总R主要受什么限制?
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材料和元件的绝缘能力影响电荷泄漏;元件漏电阻Ra与放大器输入电阻Ri共同决定实际保存时间。
材料绝缘电阻与体积电阻率描述材料或试件的绝缘表现,电阻率单位Ω·m、电阻单位Ω。元件的有效泄漏电阻Ra还受几何、表面污染、封装和湿度影响;放大器输入电阻Ri则来自外部电路。三者有关但不能互为别名。
教材把材料电阻列为改善低频特性的参数,因为电荷经漏电路径流失。实际测量中Ra与Ri都连接在信号端口,简化为
并联等效R不大于其中较小者。仅提高Ra而Ri仍很低,实际电荷保存依然受Ri限制。
时间常数还与Ca、Cc、Ci有关。提高绝缘及输入电阻可减缓泄漏、改善低频响应;有限R仍使恒定力的长期信号衰减。接线清洁、湿度和输入保护也可能影响有效漏电,不能把材料表中的高电阻率直接当装配后电路的无限电阻。
基础测试统一使用选择题,先确认概念、定义和关键判断是否扎实。
Ra与Ri并联时,总R主要受什么限制?
材料电阻率与元件漏电阻能否直接等同?
暂无前置知识
暂无后续知识
暂无引用。